VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3360
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3360 VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 50 MHz 測(cè)試頻率
- 608 個(gè) I/O 通道
- 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
- 平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
- Real Parallel Trim/Match 功能
- 直接裝設(shè) SC312, TS670 針測(cè)卡
- 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
- Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN test 選配 (512M)
- ALPG test 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語言
- 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
- 多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
